假設(shè)光程差為1個(gè)波長需要4個(gè)像素對其采樣。從評價(jià)函數(shù)計(jì)算結(jié)果可以看出，對整個(gè)光瞳進(jìn)行采樣需要38,000 x 38,000個(gè)像素點(diǎn)。但如果每個(gè)波長的光程差改成2個(gè)像素點(diǎn)對其采樣則需要16,000 x 16,000個(gè)像素點(diǎn)。儲(chǔ)存這一數(shù)量的點(diǎn)陣需要4.3GB的內(nèi)存。對于一般電腦要計(jì)算這么多的像素對幾乎是不可能實(shí)現(xiàn)的，即使可以算也需要很長的時(shí)間。因此用POP的方法查看1相位分布顯然是不切實(shí)際的。

想要查看光線高度，可以在不設(shè)定光線瞄準(zhǔn)的情況下：打開“Analysis > Rays & Spots > Single Ray Trace”，將視場設(shè)置為1，光瞳坐標(biāo)設(shè)置為Px=0及Py=1，即軸上物點(diǎn)的邊緣光線。在“Paraxial Ray Trace Data”中可以看到光闌面上，Y的高度為0.424799，而在“Real Ray Trace Data”Y的高度為0.43225。實(shí)際和近軸光線有差距并且在視場2時(shí)更加明顯。

它們可以用來表示LED的芯片、電極線、封裝點(diǎn)等?？梢栽诓煌矬w的表面上添加詳細(xì)的光學(xué)屬性，然后進(jìn)行大量的光線追跡。 該光源模型可以直接進(jìn)行光線追跡，或者將光源產(chǎn)生的光線保存在光線數(shù)據(jù)庫中。在分析選項(xiàng)卡 -> 光線數(shù)據(jù)庫查看器 (Ray Database Viewer) 中，您可以選擇一個(gè)測試物體，并將所有入射到該物體的光線保存為一個(gè) 新的光源文件。