1、BTXⅡ儀器原理

BTXⅡ是XRD家族中一款顛覆性的產(chǎn)品，采用的2D-XRD技術(shù)，與傳統(tǒng)大型臺(tái)式1D-XRD相比較，具有原理構(gòu)造上的創(chuàng)新，其表現(xiàn)在：

1) 采用衍射幾何技術(shù)：即X光束直接穿透樣品，探測(cè)器接收的是 透過樣品的衍射光束而非傳統(tǒng)臺(tái)式機(jī)探測(cè)器接收的反射光束。

2) 采用大面積二維CCD探測(cè)器而非傳統(tǒng)一維計(jì)數(shù)器，探測(cè)面積為1024 x 256 pixels，且能同步進(jìn)行XRD和XRF信息采集。

3) 采用樣品振動(dòng)系統(tǒng)（NASA），不使用傳統(tǒng)測(cè)角儀，在樣品檢測(cè)過程中，X光束和探測(cè)器均靜止不動(dòng)，而所檢測(cè)樣品通過磁性連鎖裝置高速振動(dòng)，以獲取衍射信息。

XRD基本原理—布拉格定律     BTXⅡ原理構(gòu)造圖              BTXⅡ機(jī)體

2、BTXⅡ測(cè)試原理

BTXⅡ測(cè)試分為三步，啟動(dòng)儀器（無(wú)需儀器校正）—制樣裝樣—檢測(cè)。使用BTXⅡ專門配置的樣品制備系統(tǒng)，將樣品研磨成粉末（粒徑D<150um），然后裝填進(jìn)樣品室中（樣品量m~15mg），X光束穿透樣品，探測(cè)器接收衍射光束，形成衍射圖譜，得到樣品信息。