這種方法也可以用于單個(gè)宏調(diào)用并返回多個(gè)數(shù)值（如果想了解更多，請(qǐng)參考前文所說(shuō)的使用者手冊(cè)），這些值可以用于優(yōu)化或者僅僅提供一個(gè)值給MFE做進(jìn)一步分析。ZPLM可以提供驚人的速度以及彈性，使用者可以用該操作數(shù)計(jì)算并優(yōu)化一些特殊數(shù)值。

用戶(hù)自定義操作數(shù)是否會(huì)使評(píng)價(jià)函數(shù)計(jì)算緩慢？

也許您會(huì)好奇，在評(píng)價(jià)函數(shù)中使用自定義的操作數(shù)時(shí)，是否會(huì)使得評(píng)價(jià)函數(shù)計(jì)算緩慢？其實(shí)，這很大程度依賴(lài)于您宏計(jì)算的復(fù)雜程度，一般情況下宏計(jì)算是非?？斓摹?

作為演示，我們現(xiàn)在對(duì)Cooke Triplet執(zhí)行兩次優(yōu)化：一次使用ZPLM操作數(shù)加上宏，一次使用內(nèi)建操作數(shù)WFNO。

第1一種情況，我們將ZPLM的目標(biāo)值設(shè)置為5，權(quán)重設(shè)置為1。

本例中，我們假設(shè)制造商使用邊緣厚度變化作為測(cè)試方法。我們?cè)赬、Y兩個(gè)方向輸入0.2mm的最1大傾斜，因此最1大1的半徑傾斜為sqrt(0.22+0.22)=0.28mm。

表面不規(guī)則度：可以定義為球差和像散的總和，也可以使用Zernike系數(shù)來(lái)定義（這主要是測(cè)量?jī)x器為干涉儀時(shí)才這么定義）。本例中，我們使用第1一種方法，并且設(shè)定表面不規(guī)則度為1/5。

元件公差：主要測(cè)量系統(tǒng)的“機(jī)械軸”對(duì)元件的偏差程度。

總結(jié)

公差分析是一個(gè)復(fù)雜的流程，這篇文章介紹了公差分析的整個(gè)流程，內(nèi)容包括：

（1） 優(yōu)化你的設(shè)計(jì)直到超越目標(biāo)規(guī)格，且要超過(guò)一定適當(dāng)?shù)牧俊?

（2） 建立一組默認(rèn)公差操作數(shù)。Zemax OpticStudio提供超過(guò)一種方法來(lái)模擬同一種公差，你必須選擇最1能代表實(shí)際制造，測(cè)試以及組裝時(shí)使用的方法。

（3） 編輯公差操作數(shù)以考慮不同的組裝方式，并加入可能的補(bǔ)償器。

（4） 定義公差評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)，此標(biāo)準(zhǔn)須符合實(shí)際工廠的測(cè)試方式。

（5） 建立一些Monte-Carlo文件并確認(rèn)公差操作數(shù)有依照你預(yù)想的方式工作。

（6） 執(zhí)行靈敏度分析。

（7） 手動(dòng)緊縮一些棘手的公差，或者使用逆向敏感度分析Inverse Sensitivity，讓Zemax OpticStudio自動(dòng)計(jì)算。

（8） 一旦確定你的公差都沒(méi)有問(wèn)題之后，設(shè)定執(zhí)行N2個(gè)Monte-Carlo分析，其中N為公差操作數(shù)的數(shù)量。

（9） 檢查反靈敏度分析產(chǎn)生的公差操作數(shù)參數(shù)值，確保他們?cè)诤侠淼姆秶鷥?nèi)。