性能特點(diǎn)（操作簡(jiǎn)單、3分鐘出結(jié)果）

  RoHS檢測(cè)儀出售 ROHS測(cè)試儀器 XRF光譜儀是一種物理分析方法，具有快速、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)。采用X射線熒光光譜檢測(cè)技術(shù)，運(yùn)用全新的一體機(jī)理念，原裝進(jìn)口美國(guó)AMPTEK制造的Si-PIN探測(cè)器，可準(zhǔn)確檢測(cè)鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚等有害重金屬物質(zhì)、被測(cè)樣品可以是固體、液體、粉末、標(biāo)簽……，廣泛應(yīng)用于電子/塑膠產(chǎn)品生產(chǎn)、玩具制造、五金制造、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域，儀器運(yùn)行穩(wěn)定性高。

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：從硫S-鈾U之間的元素

                    RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br + 鹵素
                    合金成份分析：不銹鋼、銅合金等
                    鍍層：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe（單層或雙層電鍍）

檢出限值：RoHS：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm 、Pb≤2ppm、Cl≤40ppm

                    成分分析：0.01%--99.99%

                    鍍層分析：0.0035um--40um

                    多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%（含量96%以上）

                    長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.05%（含量96%以上）

樣品范圍：固體、液體、粉末

低檢出限：低2ppm

X光管適用壽命：大于20000小時(shí)

探測(cè)器：電制冷Si-Pin 探測(cè)器（美國(guó)進(jìn)口）

分辨率：145±5eV