熒光光譜儀波長色散 日本理學波長色散品牌 日本理學
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熒光光譜儀波長色散-日本理學波長色散品牌-日本理學

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廣州儀德精密科學儀器股份有限公司

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商品參數(shù)
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品牌 理學
產(chǎn)地 日本
是否進口 進口
報價方式 按實際訂單報價為準
產(chǎn)品編號 7193596
商品介紹

X熒光光譜儀如何建立面向應用的標樣

如何建立面向應用的標準樣品呢?可以從以下幾步實施:

1、先將用戶要檢測的樣品材料進行分類,將不同材質的樣品分成不同類別。

2、同類別的材料再按其基材和主要組份分類。

3、同基材的材料按照其主要組份進行分類。

4、確認材料的組份差別控制在可容許范圍內(nèi),并確認其中應無影響譜線的不確定特征干擾元素出現(xiàn),或者按照供應商進行分類。

5、在1-4步基礎上(用戶可根據(jù)自己需要的可操作性選擇進行到那一步)后細分的類別,使用ICP_OES和GC_MS等儀器對其中的主要組份、相關組分和待測組分進行定量分析。并根據(jù)待測組分的含量情況可以人為添加一定量的待測元素,為了保證添加的元素的狀態(tài)穩(wěn)定,應盡量添加其穩(wěn)態(tài)化合物。以此建立給分類材料的標準樣品,并使用該標準樣品在X射線熒光光譜儀上建立標準曲線。

6、根據(jù)用戶需要,不斷擴充標準樣品種類,并對應材料使用者進行對應的物料編號或使用用戶編號,使操作員能準確使用對應的標準曲線進行該類材料的檢測。





我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看,依然是建立在布拉格定律基礎之上,但儀器面目全新。縱觀30年來的發(fā)展軌跡,可總結出如下特點 。

(1) 現(xiàn)代控制技術的應用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中,從20世紀80年代起,一些機械部件為電子線路所取代,電子線路又進而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測角儀和激光定位光學傳感器驅動測角儀,取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機械運動的測角儀,2θ掃描精度也由齒輪機械運動的±0.001°提高到±0.0002°,2θ掃描速度提高到 80°/s。高壓發(fā)生器經(jīng)歷了高壓放大器穩(wěn)壓、雙向可控硅與脈沖觸發(fā)電路、諧波調(diào)制電路到今天的模塊化設計的固態(tài)發(fā)生器電路,在外電源電壓±10%的變化范圍內(nèi),高壓電源的穩(wěn)定性可達0.00005%。近年來電子學線路由模擬電路發(fā)展為數(shù)字電路。這些改進既改善了儀器性能又降低了成本,并使XRF譜儀小型化。譜儀24 h長期穩(wěn)定性達到小于等于兩倍的相對計數(shù)統(tǒng)計誤差。






廣州儀德精密科學儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅持服務于國內(nèi)實驗分析領域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務,是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等,如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。





射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產(chǎn)生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現(xiàn)性好、準確度高、非破壞性和對環(huán)境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家戰(zhàn)略礦石之一,對其快速準確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長,操作繁瑣,不適合日??焖俜治龅囊?。


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公司名稱 廣州儀德精密科學儀器股份有限公司
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