我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來(lái)看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來(lái)的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過(guò)程中，從20世紀(jì)80年代起，一些機(jī)械部件為電子線(xiàn)路所取代，電子線(xiàn)路又進(jìn)而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無(wú)齒輪莫爾條紋測(cè)角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的測(cè)角儀，2θ掃描精度也由齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的±0.001°提高到±0.0002°，2θ掃描速度提高到 80°/s。高壓發(fā)生器經(jīng)歷了高壓放大器穩(wěn)壓、雙向可控硅與脈沖觸發(fā)電路、諧波調(diào)制電路到今天的模塊化設(shè)計(jì)的固態(tài)發(fā)生器電路，在外電源電壓±10%的變化范圍內(nèi)，高壓電源的穩(wěn)定性可達(dá)0.00005%。近年來(lái)電子學(xué)線(xiàn)路由模擬電路發(fā)展為數(shù)字電路。這些改進(jìn)既改善了儀器性能又降低了成本，并使XRF譜儀小型化。譜儀24 h長(zhǎng)期穩(wěn)定性達(dá)到小于等于兩倍的相對(duì)計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差。

我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來(lái)看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新。縱觀30年來(lái)的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

新型X射線(xiàn)管和多層膜晶體改善了超輕元素的測(cè)量。20世紀(jì)90年代中期以來(lái)相繼推出新型的端窗X射線(xiàn)管，延長(zhǎng)了使用壽命，縮短了陽(yáng)極到樣品的距離，端窗口鈹窗厚度從125 μm 改用75 μm或 50 μm; 同時(shí)測(cè)定輕元素的分光晶體由反射式改用多層膜晶體，可根據(jù)需要生產(chǎn)岀不同晶面間距的多層膜晶體。多層膜晶體還具有耐輻照、背景低、信噪比好和使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)，這些新技術(shù)的應(yīng)用使可分析的元素原子序數(shù)從9號(hào)的氟前推到5號(hào)的硼，在特定條件下甚至可測(cè)定4號(hào)元素鈹。

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光硫(S)分析儀，根據(jù)ASTM D2622-10測(cè)量石油燃料中超低硫(ULS)

波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光硫(S)分析儀

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計(jì)的理學(xué)Micro-Z ULS波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光儀（WDXRF），擁有一個(gè)新的特征，可以同時(shí)測(cè)定硫的峰強(qiáng)和背景強(qiáng)度。測(cè)定并校正背景強(qiáng)度變化的能力使獲得一個(gè)更好的凈峰強(qiáng)度測(cè)定，從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。