原子熒光光譜法是以原子在輻射能量分析的發(fā)射光譜分析法。利用激發(fā)光源發(fā)出的特征發(fā)射光照射一定濃度的待測元素的原子蒸氣，使之產(chǎn)生原子熒光，在一定條件下，熒光強度與被測溶液中待測元素的濃度關(guān)系遵循Lambert-Beer定律，通過測定熒光的強度即可求出待測樣品中該元素的含量。

原子熒光光譜法具有原子吸收和原子發(fā)射兩種分析方法的優(yōu)勢，并且克服了這2種方法在某些地方的不足。該法的優(yōu)點是靈敏度高，目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法;譜線簡單;在低濃度時校準曲線的線性范圍寬達3~5個數(shù)量級，特別是用激光做激發(fā)光源時更佳，但其存在熒光淬滅效應(yīng)，散射光干擾等問題。

波長色散X射線熒光光譜儀，快速定量元素分析的高性能WDXRF。

波長色散X射線熒光光譜儀

ZSX Primus

理學公司的ZSX Primus提供從Be到U主、次元素快速定量分析，廣泛的樣品種類，很少的標樣要求。

強度高、靈活性大且元素分析可靠

ZSX Primus是理學公司ZSX系列中的儀器。繼續(xù)通過及時和無縫的方式提供準確的結(jié)果，具有的可靠性、靈活性和易用性。滿足當今實驗室中的任何挑戰(zhàn)。

低原子序數(shù)性能、Mapping分析和多點分析

對分析復雜樣品提供卓越的性能和靈活性，ZSX Primus中具有一個30μm的X射線管（工業(yè)中薄端窗的X射線管），用于特殊輕元素（低原子序數(shù)）檢出限。結(jié)合了的Mapping分析包來檢測均質(zhì)性和夾雜物，ZSX Primus簡單地提供了其他分析方法無法提供的詳細樣品分析?？捎枚帱c分析幫助消除非均質(zhì)材料的抽樣誤差。

日本理學波長色散X射線熒光硫(S)分析儀，根據(jù)ASTM D2622-10測量石油燃料中超低硫(ULS)

波長色散X射線熒光硫(S)分析儀

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計的理學Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀（WDXRF），擁有一個新的特征，可以同時測定硫的峰強和背景強度。測定并校正背景強度變化的能力使獲得一個更好的凈峰強度測定，從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。