丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品完全可以與國(guó)外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計(jì)制造經(jīng)驗(yàn)。多年來(lái)與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。

膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

膜厚儀電渦流測(cè)量原理：

高頻交流在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，的頻率不同，的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10的高水平。

膜厚測(cè)試儀，分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

膜厚儀分類

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).

丞普諾儀器（蘇州）有限公司另設(shè)有化學(xué)儀器事業(yè)部，產(chǎn)品涵蓋ROHS檢測(cè)儀、X-RAY、鍍層測(cè)厚儀、直讀光譜儀、高效液相色譜儀、GC-MS質(zhì)譜氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀、ICP電感耦合光譜儀、AAS原子吸收分光光度計(jì)、微波消解、紫外分光光度計(jì)等，并針對(duì)重金屬環(huán)保檢測(cè)、生物檢測(cè)、有害物質(zhì)分析、材料成分及表面分析、提供進(jìn)的檢測(cè)儀器及整套實(shí)驗(yàn)室構(gòu)建、耗材、培訓(xùn)等一站式解決方案。