丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品完全可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計制造經(jīng)驗。多年來與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。

膜厚儀特點

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測量（需要配合純材料）,為您節(jié)省購買標(biāo)準(zhǔn)片的成本.完全超越其他品牌的所謂FP軟件.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.

膜厚儀主要性能優(yōu)勢：采用極速探測器技術(shù)；探測信噪比更強，檢出限更低；采用大功率X光管及的數(shù)字多道技術(shù)；光閘系統(tǒng)，提高測試效率與測試精度；精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測試點；多點測試，多點連續(xù)測試超小樣品檢測；人性化的設(shè)計：更安全、更快捷：預(yù)約預(yù)熱：預(yù)約關(guān)機。

膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進(jìn)行定性和定量分析。

臺式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。

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