• 單機內建高電壓耐壓測試與PD偵測功能
• 可程式交流電壓0.1kVac~10KVac
• 高精度及高解析度電流表0.01uA~300uA
• 局部放電(PD)偵測范圍1 pC~2000 pC
• 高壓接觸檢查功能(HVCC)
• 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1法規(guī)測試要求
• 內建IEC60747-5-5測試方法
• 三段電壓測試功能
• PD測量結果數(shù)字化顯示(pC)
• PD不良發(fā)生判定次數(shù)設定(1~10)
• 繁中/簡中/英文操作介面
• USB畫面擷取功能
• 圖形化輔助編輯功能
• 標準LAN, USB, RS232遠端控制介面

Chroma 19501-K 局部放電測試器結合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出最大10kV，漏電流量測范圍從0.01uA~300uA，局部放電偵測范圍最小可偵測1pC放電量，針對高壓半導體元件及高絕緣材料測試應用所開發(fā)。產品設計符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(guī)要求，同時內建IEC 60747-5-5法規(guī)之測試方法在儀器內部，滿足光耦合器產品生產測試需求，并提供給使用者一個便利操作介面.

在生產線上執(zhí)行高壓測試時，如果被測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至是漏測的風險。因此，在測試前確保被測物與測試線良好連接是非常重要的。 Chroma 獨特之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時同步進行接觸檢查，提升其測試可靠度與效率。