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日本理學-臺式熒光光譜儀波長色散
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射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現(xiàn)性好、準確度高、非破壞性和對環(huán)境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家戰(zhàn)略礦石之一,對其快速準確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長,操作繁瑣,不適合日??焖俜治龅囊蟆i_發(fā)了X射線熒光光譜法快速測定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實驗采用玻璃熔融法制備硫化銅礦樣品,在600℃下預氧化20min,使低價態(tài)的硫轉變?yōu)榱蛩猁},不僅避免了鉑金坩堝被腐蝕,而且可以更好的測定以Cu和S為主的主量元素的含量。
原子熒光光譜法是以原子在輻射能量分析的發(fā)射光譜分析法。利用激發(fā)光源發(fā)出的特征發(fā)射光照射一定濃度的待測元素的原子蒸氣,使之產生原子熒光,在一定條件下,熒光強度與被測溶液中待測元素的濃度關系遵循Lambert-Beer定律,通過測定熒光的強度即可求出待測樣品中該元素的含量。
原子熒光光譜法具有原子吸收和原子發(fā)射兩種分析方法的優(yōu)勢,并且克服了這2種方法在某些地方的不足。該法的優(yōu)點是靈敏度高,目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法;譜線簡單;在低濃度時校準曲線的線性范圍寬達3~5個數(shù)量級,特別是用激光做激發(fā)光源時更佳,但其存在熒光淬滅效應,散射光干擾等問題。
波長色散X射線熒光光譜儀,快速定量元素分析的高性能WDXRF。
波長色散X射線熒光光譜儀
ZSX Primus
理學公司的ZSX Primus提供從Be到U主、次元素快速定量分析,廣泛的樣品種類,很少的標樣要求。
強度高、靈活性大且元素分析可靠
ZSX Primus是理學公司ZSX系列中的儀器。繼續(xù)通過及時和無縫的方式提供準確的結果,具有的可靠性、靈活性和易用性。滿足當今實驗室中的任何挑戰(zhàn)。
低原子序數(shù)性能、Mapping分析和多點分析
對分析復雜樣品提供卓越的性能和靈活性,ZSX Primus中具有一個30μm的X射線管(工業(yè)中薄端窗的X射線管),用于特殊輕元素(低原子序數(shù))檢出限。結合了的Mapping分析包來檢測均質性和夾雜物,ZSX Primus簡單地提供了其他分析方法無法提供的詳細樣品分析??捎枚帱c分析幫助消除非均質材料的抽樣誤差。