熒光光譜儀使用方法WDXRF熒光 熒光光譜儀WDXRF熒光 日本理學
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熒光光譜儀使用方法WDXRF熒光-熒光光譜儀WDXRF熒光-日本理學

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廣州儀德精密科學儀器股份有限公司

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是否進口 進口
產(chǎn)地 日本
產(chǎn)品名 波長色散X射線熒光光譜儀
報價方式 按實際訂單報價為準
產(chǎn)品編號 7620772
商品介紹

X熒光光譜儀總而言之,建立適合用戶的標準樣品庫,才能將X射線熒光光譜儀的效能,雖然前期要做許多工作,例如收集樣品,樣品分析,標準樣品制備等工作,但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應(yīng)用的標準樣品庫,可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。

一、X熒光光譜儀測試方法:

1、X熒光光譜儀樣品制備

進行x射線熒光光譜分析的樣品,可以是固態(tài),也可以是水溶液。無論什么樣品,樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌;化學組成相同,熱處理過程不同的樣品,得到的計數(shù)率也不同;成份不均勻的金屬試樣要重熔,快速冷卻后車成圓片;對表面不平的樣品要打磨拋光;對于粉末樣品,要研磨至300目一400目,然后壓成圓片,也可以放人樣品槽中測定。對于固體樣品如果不能得到均勻平整的表面,則可以把試樣用酸溶解,再沉淀成鹽類進行測定。對于液態(tài)樣品可以滴在濾紙上,用紅外燈蒸干水份后測定,也可以密封在樣品槽中。總之,所測樣品不能含有水、油和揮發(fā)性成份,更不能含有腐蝕性溶劑。

2、熒光光譜儀定性分析

不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量,因此根據(jù)熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀,對于一定晶面間距的晶體,由檢測器轉(zhuǎn)動的2e角可以求出x射線的波長入,從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀,可以由通道來判別能量,從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時,仍需人工鑒別。首先識別出光管靶材的特征x射線和強峰的伴隨線,然后根據(jù)能量標注剩余譜線。在分析未知譜線時,要同時考慮到樣品的來源、性質(zhì)等元素,以便綜合判斷。





廣州儀德精密科學儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅持服務(wù)于國內(nèi)實驗分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等,如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。

EDXRF 光譜儀的特點:

儀器結(jié)構(gòu)簡單小巧,省略了精密運動裝置

沒有分光晶體

X射線管功率低(一般<50W)

無需昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)(空氣冷卻即可)

可同時執(zhí)行元素分析

優(yōu)點在于X射線利用率高,可同時檢測多元素,價格低;

缺點是靈敏度低、分辨率低、檢出限高(相對于WDXRF).

WDXRF一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。它可以分析從鈹

(Be) 到鈾

(U) 的各種元素, 濃度范圍從100 % 到低至亞 ppm

級。




多達40種元素的同時元素測試

Simultix14提供從Be到U的同時元素分析。為了分析多達40種的元素,分析儀配備了一個3kW(或者4kW選購)60kV端窗的X射線管,用于所有固定道的背景校正,以及對數(shù)螺線晶體和優(yōu)化的光學路徑。

Features

廣泛的元素分析范圍Be~U

3kW(或者4kW選購)60kV端窗的X射線管

多達40個固定道

固定道的背景校正

對數(shù)螺線晶體和優(yōu)化的光學路徑

設(shè)計小巧

可在線進行過程控制

8或48位樣品自動轉(zhuǎn)換器

多窗口、多功能基本參數(shù)(FP)軟件





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公司名稱 廣州儀德精密科學儀器股份有限公司
聯(lián)系賣家 丘先生 (QQ:402636448)
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網(wǎng)址 http://www.yidekeyi.com
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