日本理學(xué)WDXRF熒光 日本理學(xué) 熒光光譜儀WDXRF品牌
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日本理學(xué)WDXRF熒光-日本理學(xué)-熒光光譜儀WDXRF品牌

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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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商品參數(shù)
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商品介紹
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品牌 理學(xué)
是否進(jìn)口 進(jìn)口
產(chǎn)地 日本
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
產(chǎn)品編號(hào) 7735385
商品介紹

我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來(lái)看,依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上,但儀器面目全新??v觀30年來(lái)的發(fā)展軌跡,可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

新型X射線管和多層膜晶體改善了超輕元素的測(cè)量。20世紀(jì)90年代中期以來(lái)相繼推出新型的端窗X射線管,延長(zhǎng)了使用壽命,縮短了陽(yáng)極到樣品的距離,端窗口鈹窗厚度從125 μm 改用75 μm或 50 μm; 同時(shí)測(cè)定輕元素的分光晶體由反射式改用多層膜晶體,可根據(jù)需要生產(chǎn)岀不同晶面間距的多層膜晶體。多層膜晶體還具有耐輻照、背景低、信噪比好和使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),這些新技術(shù)的應(yīng)用使可分析的元素原子序數(shù)從9號(hào)的氟前推到5號(hào)的硼,在特定條件下甚至可測(cè)定4號(hào)元素鈹。




廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來(lái)堅(jiān)持服務(wù)于國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營(yíng)銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長(zhǎng)\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見(jiàn)分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

 在儀德人的深耕細(xì)作下,客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運(yùn)輸、機(jī)械制造、商檢、質(zhì)檢、環(huán)境保護(hù)、食品藥品和教學(xué)科研等各行各業(yè)。

當(dāng)樣品與聚焦點(diǎn)距離變化在-20μm~20 μm時(shí),激發(fā)出的Fe、Cu、Zn、S的強(qiáng)度值。X射線熒光光譜分析測(cè)定金屬膜層的厚度,其測(cè)量值與實(shí)際值偏差不大。該儀器還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像,在玻璃基底上獲取的指紋紋理更清晰。微區(qū)X射線熒光光譜無(wú)損分析可得到類似切割板的多元素分布圖,是分析元素分布規(guī)律的一種較快的方法,能快速測(cè)出金屬膜層的厚度,高效率提取指紋。通過(guò)蘭坪盆地鉛鋅銅多金屬成礦區(qū)帶典型礦山地區(qū)1:50000地質(zhì)調(diào)查,采集云龍縣的山坡、林地、草地等的土壤樣品400多件,用波長(zhǎng)色散-能量色散復(fù)合型X射線熒光光譜儀測(cè)量土壤重金屬含量。得到土壤中重金屬元素的平均值、中位值等,發(fā)現(xiàn)Zn和Pb元素含量的值點(diǎn)在同一位置點(diǎn),在河庫(kù)旁干涸處草地。








ZSX Primus III+具有場(chǎng)新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

高精度樣品定位

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對(duì)例如合金分析等需要高精度的應(yīng)用非常重要。ZSX Primus III+使用一個(gè)獨(dú)特的光學(xué)配置執(zhí)行高精度分析,用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導(dǎo)致的錯(cuò)誤。

SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件

用戶使用EZ掃描軟件可以在無(wú)需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,快速提供準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過(guò)光電子(輕、超輕元素)、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。





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聯(lián)系賣家 丘先生 (QQ:402636448)
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