北京東方圓通科技發(fā)展有限公司主營(yíng)：活度計(jì),輻射檢測(cè)儀,個(gè)人劑量?jī)x,同位素識(shí)別儀

你對(duì)熱釋光劑量片了解多少？

對(duì)中子的響應(yīng)：對(duì)重粒子所致吸收劑量的響應(yīng)有LET依賴性，這有利于差出n、γ混合場(chǎng)中γ成分。

貯存信息的穩(wěn)定性：室溫下存放一個(gè)月無(wú)明顯減退，在50℃下存放一個(gè)月會(huì)減退約3%。

光照效應(yīng)：對(duì)室內(nèi)散射日光、白熾燈光、熒光燈無(wú)明顯響應(yīng)；對(duì)直射日光(紫外光)有響應(yīng)

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熱釋光探測(cè)器的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

熱釋光探測(cè)器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲(chǔ)存作用。當(dāng)加熱到一定溫度時(shí)又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關(guān)系。

當(dāng)磷光體（晶體）受到電離輻照時(shí)，射線與晶體相互作用，產(chǎn)生電離和激發(fā)，使晶體價(jià)帶中的電子獲得足夠的能量游離出來(lái)，上升到導(dǎo)帶，在價(jià)帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級(jí)分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級(jí)上的電子和空穴在無(wú)外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長(zhǎng)時(shí)間滯留在缺陷中。隨著時(shí)間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，所以在線性劑量范圍內(nèi)磷光體熱釋光的強(qiáng)度與所接受的輻射劑量成正比。

當(dāng)加熱磷光體時(shí)，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速?gòu)?fù)合，或游弋經(jīng)導(dǎo)帶后與禁帶中的空穴復(fù)合。在上述幾種復(fù)合過(guò)程中，都以可見(jiàn)光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱為熱釋光。

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熱釋光的發(fā)光曲線

熱釋光的發(fā)光曲線就是動(dòng)力學(xué)模型表達(dá)式的圖形顯示。它具有以下幾個(gè)特征。

1）磷光體的熱釋發(fā)光曲線的形狀（峰數(shù)等）與其能級(jí)及晶格中的缺陷有關(guān)。不同的磷光體具有不同的陷阱能級(jí)。同一磷光體存在著一個(gè)或多個(gè)不同的陷阱能級(jí)。低溫峰對(duì)應(yīng)能量較低的淺陷阱。高溫峰對(duì)應(yīng)能量較高的深陷阱。

2）磷光體的熱釋光強(qiáng)度（發(fā)光峰的高度或發(fā)光峰的面積）與發(fā)光中心的電子、空穴數(shù)有關(guān)，而后者取決于所接受照射劑量的大小。在線性劑量范圍內(nèi)磷光體的熱釋光強(qiáng)度與所接受的輻照劑量成正比。

3）磷光體熱發(fā)光曲線的形狀還與其他一些參數(shù)有關(guān)，如熱釋光探測(cè)器的光譜響應(yīng)靈敏度、加溫速率以及磷光體和加熱介質(zhì)之間的熱接觸等。

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