波長掃描型紫外可見分光光度計UV759 赫爾普實驗室 高精度光度測定
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波長掃描型紫外可見分光光度計UV759-赫爾普實驗室-高精度光度測定

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品牌 赫爾普
波長范圍 190-1100nm
光譜帶寬 1.8nm
透射比準確度 ±0.3%T
波長重復性 0.1nm
透射比重復性 0.1%T
波長準確度 ±0.3nm
光度范圍 -3~3A ，0-200%T，0~9999C
基線平直度 ±0.001A/h
雜散光 0.05%T@220nm、360nm
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公司名稱 上海赫爾普國際貿易有限公司
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地址 上海市奉賢區(qū)
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