火花直讀光譜儀火花直讀光譜儀品牌 德國斯派克
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火花直讀光譜儀火花直讀光譜儀品牌-德國斯派克

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型號 直讀光譜儀
品牌 德國斯派克
生產(chǎn)地 德國
報價方式 按實(shí)際訂單報價為準(zhǔn)
產(chǎn)品編號 8344137
商品介紹
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營:直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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維護(hù)直讀光譜儀的要點(diǎn)

一、直讀光譜儀維護(hù)保養(yǎng)原則

光電直讀光譜儀是光和電結(jié)合的精密儀器,正確地使用和維護(hù)保養(yǎng)是機(jī)器正常運(yùn)行,延長使用壽命,保持高性能和高指標(biāo)的關(guān)鍵。一定要按照儀器說明書來全i面理解,從原理到實(shí)際操作、測試等整個過程。直讀光譜儀維護(hù)要做到三防一恒。即防震,防塵,防潮,儀器要保持恒溫。這個條件必須在設(shè)計試驗(yàn)室需要考慮的。

二、直讀光譜儀激發(fā)光源的維護(hù)

光源的穩(wěn)定性與直讀光譜分析至關(guān)重要;光源內(nèi)積塵太多和空氣溫度較大時容易造成漏電或放電。所以我們應(yīng)該定期進(jìn)行清掃,吸去塵土。

關(guān)于選擇直讀光譜儀的分析

CCD具有體積小、重量輕、測量范圍寬的優(yōu)點(diǎn),每個CCD可以測量多條譜線。因此CCD光譜儀體積小重量輕,性價比較高。后期儀器增設(shè)也比較簡單。適合檢測產(chǎn)品種類多且成分復(fù)雜的客戶使用。但是由于CCD噪聲相對PMT要高,因此CCD光譜儀的檢出限比PMT機(jī)型相對要差一點(diǎn),對于需要分析純金屬的客戶是不太適合的。DF400、DF500屬于CCD型機(jī)器。

PMT/CCD混合型的機(jī)器集PMT和CCD的優(yōu)點(diǎn)于一身,微量元素用PMT測量,常量及高含量元素用CCD測量,兼顧了PMT的低檢出限和CCD的多通道特性,性能和價格都比較理想。




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小編教你如何避免直讀光譜儀的誤差

電極的頂i尖應(yīng)具有一定角度,使光軸不偏離中心,放電間隙應(yīng)保持不變,否則聚焦在分光儀的譜線強(qiáng)度會改變。多次重復(fù)放電以后,電極會長尖,改變了放電間隙。激發(fā)產(chǎn)生的金屬蒸氣也會污染電極。所以必須激發(fā)一次后就用刷子清理電極。

透鏡內(nèi)表面常常受到來自真空泵油蒸氣的污染,外表面受到分析時產(chǎn)生金屬蒸氣的附著,使透過率明顯降低,對波長小于200nm的碳、硫、磷譜線的透過率影響更顯著,所以聚光鏡要進(jìn)行定期清理。

真空度不夠高會降低分析靈敏度, 特別是波長小于200nm的元素更明顯, 為此要求真空度達(dá)0.05mmHg。

出射狹縫的位置變化受溫度的影響大,因此保持分光室內(nèi)恒溫30℃很重要,還要求室內(nèi)溫度保持一致,使出射狹縫不偏離正常。

直讀光譜儀有哪些誤差來源

偶然誤差的來源

與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。因?yàn)楣怆姽庾V分析所消耗的樣品很少,樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性,導(dǎo)致不同部位的分析結(jié)果不同而產(chǎn)生偶然誤差。主要原因如下:

(1)熔煉過程中帶入夾雜物,產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。

(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等




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火花直讀光譜儀應(yīng)用前景分析

利用火花直讀光譜儀進(jìn)行非金屬元素/夾雜物的測定,目前還不是很理想,需要進(jìn)一步研究。納克高宏斌先生、斯派克王彥彪先生、煙臺東方趙珍陽先生均認(rèn)為目前火花直讀光譜儀測定氮尤其是高含量氮已經(jīng)比較常規(guī),但測定氧、碳、氫元素還比較困難。裴雷先生認(rèn)為:“要測定C,S,O,N,H等元素,不只對儀器有要求,還要求相關(guān)配套的標(biāo)準(zhǔn)樣品,檢測方法標(biāo)準(zhǔn)也要向前發(fā)展?!迸=騼x器的諸煒先生也表示:“根據(jù)研究顯示:利用火花直讀光譜儀進(jìn)行酸溶鋁測定的結(jié)果與濕法分析結(jié)果之間時常出現(xiàn)偏差,所以進(jìn)行夾雜物的分析還不是很成熟?!?

影響手持式光譜儀射線強(qiáng)度因素

手持式光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強(qiáng)度為依據(jù)的,影響手持式光譜儀射線強(qiáng)度的因素會影響分析的準(zhǔn)確度,以下是主要兩大影響因素

1、基體效應(yīng)

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強(qiáng)i效應(yīng)吸收效應(yīng)包括基體對入射X射線的吸收及對熒光X射線的吸收。因?yàn)橛蒙渚€激發(fā)樣品時,不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進(jìn)入樣品內(nèi)部,而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線,也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中,這兩種X射線都會因基體元素的吸收而使射線強(qiáng)度減弱,射線減弱會影響對分析元素的激發(fā)效率。

如果入射X射線使基體元素激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線的波長稍短于分析元素的吸收邊,它會使分析元素產(chǎn)生二次熒光X射線,從而使分析元素的熒光X射線強(qiáng)度增強(qiáng),這就是基體的增強(qiáng)i效應(yīng)。

如果吸收效應(yīng)占主導(dǎo)地位,則分析結(jié)果偏低,如果增強(qiáng)i效應(yīng)占主導(dǎo)地位,則分析結(jié)果偏高。




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