德國FISCHER菲希爾 X 射線熒光膜厚儀 鍍層厚度測量儀XDL
德國FISCHER菲希爾 X 射線熒光膜厚儀 鍍層厚度測量儀XDL
德國FISCHER菲希爾 X 射線熒光膜厚儀 鍍層厚度測量儀XDL
德國FISCHER菲希爾 X 射線熒光膜厚儀 鍍層厚度測量儀XDL
德國FISCHER菲希爾 X 射線熒光膜厚儀 鍍層厚度測量儀XDL
德國FISCHER菲希爾 X 射線熒光膜厚儀 鍍層厚度測量儀XDL

德國FISCHER菲希爾-X-射線熒光膜厚儀-鍍層厚度測量儀XDL

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是否進口
加工定制
品牌 FISCHER
型號 XDL / XDLM / XDAL
測量范圍 鍍層厚度測量與材料成分分析
測定對象 鍍層厚度測量與材料成分分析
電源 220 V ,50 Hz
尺寸 570×760×650
重量 120 kg
是否跨境貨源
商品介紹

德國FISCHER菲希爾臺式測量儀器


FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術,能提供無.與.倫比的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術,因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。


XAN500
一臺儀器,三種作業(yè)模式:XAN?500不只是一臺手持便攜式XRF設備,它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。


MMS PC2
采用不同測量技術的模塊化系統(tǒng):非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。


CMS2
臺式測厚儀,幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層(包括多鍍層)的厚度。


GOLDSCOPE
GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的


XAN
用于快速、地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。


XUL / XULM
基于 X 射線熒光法的測試儀器,堅固耐用,快速、地測量鍍層厚度,特別適合電鍍行業(yè)。


XDL / XDLM / XDAL
功能強大:XDL 系列儀器具有的配置方案,可手動或自動測試,是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。


XDV-SDD
FISCHERSCOPE? XDV-SDD專為滿足最.高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計


XDV-μ
FISCHER的XDV-μ型系列儀器,可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中最.微小結構的產(chǎn)品


XUV
X 射線熒光儀器,配有用于分析輕元素的真空測量室。


XDL / XDLM / XDAL
憑借電機驅(qū)動(可選)與自上而下的測量方向,XDL? 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇最.適合的 X 射線儀器。


特性:
? X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務
? 由于測量距離可以調(diào)節(jié)(最.大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
? 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現(xiàn)自動化的批量測試
? 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)


應用:

鍍層厚度測量
? 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
? 電路板上較薄的導電層和/或隔離層
? 復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
? 鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
? 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

材料分析
? 電鍍槽液分析
? 電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析




德國 射線熒光鍍層厚度測量及材料分析儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及

材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能全自

動檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。


XDL 240 特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。


FISCHERSCOPE ? X-RAY XDL ? 240 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用自動方

式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

 


典型的應用領域有:

? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動測量,如測量印刷線路板

? 分析電鍍?nèi)芤?/span>


XDL 240 有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。

由于采用了 FISCHER 完全基本參數(shù)法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣

品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。


設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。馬達驅(qū)動的 X-

工作臺,當測量門打開時,工作臺會自動移到放置樣品的位置;馬達驅(qū)動的 Z 軸系

統(tǒng),可編程運行。


高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以定位測量位置。通過視頻

窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測

量位置。


測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測

量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。


帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的調(diào)

整。


所有的儀器操作,以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示,都可以通過功能

強大而界面友好的 WinFTM ? 軟件在電腦上完成。


XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全保護的儀器,型式許可完全符合

德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。




德國射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

通用 規(guī)格

設計用途 能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液

分析。

元素范圍 從元素 氯(17) 到 鈾(92)

配有可選的 WinFTM? BASIC 軟件時,*多可同時測定 24 種元素

設計理念 臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向 由上往下

X  射線源

射線管  帶鈹窗口的鎢管

高壓 三檔: 30 kV,40 kV50 kV

孔徑(準直器) ? 0.3 mm 可選:? 0.1 mm; ? 0.2 mm;長方形 0.3 mm x 0.05 mm

測量點尺寸 取決于測量距離及使用的準直器大小,

實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致

*小的測量點大小約 ? 0.2mm

X  射線探測

射線接收器

測量距離

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用磚利保護的 DCM 測量距離補償法

樣品定位

視頻系統(tǒng)

高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

手動聚焦,對被測位置進行監(jiān)控

十字線(帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸)

可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點用于定位樣品

放大倍數(shù) 40x  160x

電氣參數(shù)

電源要求 220 V ,50 Hz

功率 *大 120 W (不包括計算機)

保護等級 IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸 寬×深×高[mm]570×760×650

內(nèi)部測量室尺寸 寬×深×高[mm]460×495x(參考“樣品*大高度”部分的說明)

重量 120 kg

環(huán)境要求

使用時溫度 10° 40°C

存儲或運輸時溫度 0° 50°C

空氣相對濕度 ≤ 95 %,無結露


工作臺

設計 馬達驅(qū)動,可編程 X/Y 平臺

255 x 235 mm

 80 mm/s

 0.01 mm 單向

300 x 350 mm

馬達驅(qū)動,可編程運行

140 mm

5 kg,降低精度可達 20kg

140 mm

X/Y 平臺*大移動范圍

X/Y 平臺移動速度

X/Y 平臺移動重復精度

可用樣品放置區(qū)域

軸移動范圍

樣品*大重量

樣品*大高度

激光(級)定位點

計算單元

計算機 帶擴展卡的 Windows ? 計算機系統(tǒng)

軟件 標準: WinFTM ? V.6 LIGHT

可選: WinFTM ? V.6 BASIC,PDM,SUPER


執(zhí)行標準

CE 合格標準  EN 61010

型式許可 作為受完全保護的儀器

型式許可完全符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。


訂貨號

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240  604-498

如有特殊要求,可與 FISCHER 磋商,定制特殊的 XDL 型號。

FISCHERSCOPE ? ; XDL ? ; WinFTM ? ; PDM ?  Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen  Germany 的注冊商標。

Windows ?  Microsoft Corporation 在美國及其他地區(qū)的注冊商標。

聯(lián)系方式
公司名稱 深圳市泰立儀器儀表有限公司
聯(lián)系賣家 牟小姐
電話 㠖㠔㠓㠓-㠚㠒㠓㠗㠙㠚㠛㠛
手機 㠗㠙㠛㠛㠒㠒㠘㠙㠛㠚㠘
傳真 㠖㠔㠓㠓-㠚㠙㠘㠚㠛㠘㠖㠛
網(wǎng)址 http://www.tl17.com.cn
地址 廣東省深圳市
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