正常的激發(fā)點子應(yīng)該是：中間是銀白色金屬光澤有金屬蒸發(fā)后的留下的凹凸不平的小麻點，周圍有一圈黑色燃燒后留下的黑色灰渣，不太大，用手或者東西可以擦掉。如果氬氣純度不好或者試樣結(jié)構(gòu)不好通常是中間金屬蒸發(fā)留下的那片蒸發(fā)斑比正常偏小，燃燒后黑圈比正常的小，黑度低。通常黑圈的黑度和大小與材料有關(guān)，一般碳含量高的中低合金鋼黑圈顏色相對深。但是鑄鐵材料不一定黑圈顏色深，甚至沒有黑圈。如果黑圈顏色偏深，而且擴大，成擴散狀也可能是試樣不平整或者放置試樣的時候半邊漏氣。還有如果激發(fā)的條件發(fā)生變化也可能使激發(fā)后點子的顏色異常，激發(fā)能量大時黑度可能較大。

儀器的漂移校正需要進行標準化，控樣主要是消除樣品與標樣之間因組織結(jié)構(gòu)、成分差異等而引起的分析結(jié)果偏差?？貥右笈c分析樣品結(jié)構(gòu)類似、成分接近、生產(chǎn)工藝盡可能相同并經(jīng)化學(xué)法或其他可靠的分析方法定值。
控樣校準是一種行之有效的方法，國外一般稱之為類型標準化。要用控樣校準，前提是工作曲線正常。一般應(yīng)在完全標準化后進行?？貥討?yīng)與待分析樣品的冶煉方式、物理結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分含量相近，這是應(yīng)用控樣必須遵守的。
可以去購買相接近的標樣做為控樣。但我覺得如果條件允許，還是自己制備，這樣不僅節(jié)省成本，而且與自己的分析條件更符合。
制作控樣還是比較費事的，首先要準備好澆注模具和同種牌號、熔煉良好的液態(tài)合金，盡量在短時間內(nèi)澆注完成。澆注好的樣塊先經(jīng)過肉眼觀察，將外觀不好的丟棄。再用光譜儀進行均勻性和含量檢查（全部）。根據(jù)澆注數(shù)量和時間順序從中挑選，選擇幾塊用金相法檢測均勻性及鑄造質(zhì)量。
從挑選好的的中控樣，挑選幾塊，用化學(xué)法進行化學(xué)成分標定（推薦到有的單位做）。給控樣打好標識，就可以投入使用了。
曲線漂移是用兩點標準化來校正的,控樣是和你們實際生產(chǎn)中產(chǎn)品的工作環(huán)境、條件非常接近的樣品，這樣可以使你分析更加準確，它是自己做的，但是需要化學(xué)分析嚴格準確地定值。

通常來說，光譜儀有三個重要組成部分：狹縫（Slit）、色散元件（Dispersive element）、檢測器（Detector）。在光譜儀性能評價中，重要的評價指標之一便是色散能力（Dispersive power）。
簡單而言，就是色散元件能夠把復(fù)色光分散到多寬的范圍上，光被分散地越寬，光譜儀的分辨率自然越好。
可以看到，焦平面越遠，刻線越密，色散能力越強，后者受到光柵制作工藝限制，傳統(tǒng)的光譜儀往往在上下功夫，這也是光譜儀做的比較大的原因。
然而，值得注意的是，你把光譜儀的分辨能力提得越高，雖然波長相近的光能夠被區(qū)分地更好，但其代價就是一定長度的detector上所能展現(xiàn)的光譜范圍變小了，所以，當光柵光譜儀發(fā)展到一定階段后，人們發(fā)現(xiàn)重要的問題又出現(xiàn)在了檢測器（detector）這一側(cè)。
檢測器
感光元件是直讀光譜儀的核心，元器件的好壞關(guān)系到精密儀器的精度。直讀光譜儀（OES）的核心元件有三種,一種是廣泛使用的CCD（電荷耦合）元件；另一種是CMOS（互補金屬氧化物半導(dǎo)體）器件,還有一種是PMT光電倍增管。
以上的器件都是光譜儀的核心器件，元件的質(zhì)量對光譜儀的種類來說很重要。

帕型-龍格結(jié)構(gòu)一種光柵分光系統(tǒng)，包括刻有若干條閃耀角為θ的刻痕透射式閃耀光柵和微透鏡，其特征在于：所述微透鏡為微透鏡陣列。利用這種分光系統(tǒng)能夠得到特定波長的光強分布圖像，且單色光的能量集中，譜線寬度窄。
微透鏡陣列是由許多形狀相同的微米尺寸小透鏡按一定規(guī)律排列而成的陣列，多數(shù)是按正方形排列。透鏡陣列標準品包含正方形微透鏡和六邊形微透鏡，子單元尺寸32μm-1500μm，焦距在0.8mm-50mm之間，微透鏡陣列一般應(yīng)用在高靈敏度成像、激光勻化、分束、波前傳感、光束聚焦和準直等領(lǐng)域。
這種分光系統(tǒng)還可以由多種不同傾角的刻痕的透射式閃耀光柵和微透鏡陣列所組成，這樣可得到多幅特定波長的光強分布圖像。
對于直讀光譜儀器而言，分光系統(tǒng)的優(yōu)越?jīng)Q定的元素準確性，能把相近的波長的光分出，就能相對減少干擾。這個結(jié)構(gòu)是目前的直讀光譜儀器的常用結(jié)構(gòu)。