廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡
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廣州儀德精密科學儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來堅持服務于國內(nèi)實驗分析領域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。、

開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實驗采用玻璃熔融法制備硫化銅礦樣品,在600℃下預氧化20min,使低價態(tài)的硫轉(zhuǎn)變?yōu)榱蛩猁},不僅避免了鉑金坩堝被腐蝕,而且可以更好的測定以Cu和S為主的主量元素的含量。該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領域的拓展提供了一套可借鑒的分析程序,有一定的實際應用價值。隨著分析技術由整體分析向微區(qū)分析發(fā)展,地學研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發(fā)展,巖礦的分析研究已經(jīng)由宏觀深入到更微觀的領域。目前實驗室常規(guī)使用的微區(qū)分析技術包括電子探針、激光燒蝕等離子體質(zhì)譜和各類電子顯微鏡等。微區(qū)X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術作為一種基于普通X射線熒光的無損分析技術,是X射線光譜學領域的重要分支,可實現(xiàn)微米級微小區(qū)域內(nèi)樣品中多元素定性或定量分析,成為獲取樣品微區(qū)結(jié)構元素空間線掃描、面掃描分布及時序性信息的有力工具。使用了臺式能量色散X射線熒光儀,對氧化物組合標樣和礦物光片點掃描,對31個礦物光片和涂有防曬霜的指紋樣品進行面掃描,5個金屬薄膜片點掃描。

 產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。

射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現(xiàn)性好、準確度高、非破壞性和對環(huán)境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家戰(zhàn)略礦石之一,對其快速準確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長,操作繁瑣,不適合日常快速分析的要求。

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設計的理學Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀（WDXRF），擁有一個新的特征，可以同時測定硫的峰強和背景強度。測定并校正背景強度變化的能力使獲得一個更好的凈峰強度測定，從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。

卓越的光學器件用于可靠的硫分析

理學Micro-Z ULS是適用于石油基燃料的硫分析，帶有一個更低的0.3 ppm硫的檢測限（LLD）。 在一個真空環(huán)境中使用堅固的器件和一個特殊設計的雙曲RX-9分析晶體，Micro Z ULS進行連續(xù)的高靈敏度測定。

ASTM D2622性能用于初學用戶

為初學用戶進行特殊設計，可通過簡易操作界面進行從校正到例行分析的所有操作。該分析儀可使用任意標準墻壁電源插座供電。