廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

原子光譜和離子光譜的波長(zhǎng)與特定元素是一一對(duì)應(yīng)的，而且光譜信號(hào)強(qiáng)度與對(duì)應(yīng)元素的含量具有一定的定量關(guān)系。因此該技術(shù)可以實(shí)時(shí)、快速地現(xiàn)化學(xué)元素的定性和定量分析。

激光誘導(dǎo)擊穿光譜可以真正做到現(xiàn)場(chǎng)快速分析，無(wú)須進(jìn)行樣品預(yù)處理，分析方便，也不受研究對(duì)象的限制。但是，其測(cè)量?jī)x器成本較高，激光脈沖能量的起伏性，樣品的不均勻性，樣品的特性會(huì)直接影響測(cè)量的穩(wěn)定性，也就是說(shuō)研究樣品的特性對(duì)結(jié)果的性影響較大。

X射線熒光光譜技術(shù)是一種利用樣品對(duì)X射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來(lái)定性或定量測(cè)定樣品中成分的方法。

X射線熒光光譜儀在結(jié)構(gòu)上基本由激發(fā)樣品的光源、色散、探測(cè)、譜儀控制和數(shù)據(jù)處理等幾部分組成。該X射線熒光光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法、發(fā)射光譜法在元素分析結(jié)果之間的差異，結(jié)果顯示它們的差異不顯著。從檢出限、準(zhǔn)確度、精密度和回收率方面均能滿足實(shí)驗(yàn)要求。

ZSX Primus III+具有場(chǎng)新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

高精度樣品定位

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對(duì)例如合金分析等需要高精度的應(yīng)用非常重要。ZSX Primus III+使用一個(gè)獨(dú)特的光學(xué)配置執(zhí)行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導(dǎo)致的錯(cuò)誤。

SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件

用戶使用EZ掃描軟件可以在無(wú)需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過(guò)光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。