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納瑟(上海)納米科技有限公司
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店齡5年 · 
企業(yè)認證 · 
上海市虹口區(qū) 
納瑟(上海)納米科技有限公司
主營產(chǎn)品： 儀器儀表, 電子產(chǎn)品
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Semilab-SE-2000型全光譜橢偏儀
價格
訂貨量(臺)
￥1000000.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
聯(lián)系人 劉峰 經(jīng)理
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發(fā)貨地 上海市虹口區(qū)
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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
品牌 Semilab
光譜范圍 193nm-25um
樣品臺 標(biāo)準(zhǔn)200mm，300mm可選
入射角 20-90度 自動變角
厚度精度 < 0.5nm
折射率精度 < 0.005
是否進口 是
原產(chǎn)國 匈牙利
用途 科研/工業(yè)
數(shù)據(jù)庫 定期免費升級
商品介紹
SE-2000型全光譜橢偏測試平臺基于橢圓偏振測試技術(shù)，通過樣品光學(xué)模型的建立，計算出單層或多層薄膜結(jié)構(gòu)的厚度、折射率和消光系數(shù)，實現(xiàn)精確、快速、穩(wěn)定的寬光譜橢偏測試。
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SE-2000光譜橢偏儀是針對產(chǎn)線和實驗室推出的多功能高速測試平臺測試平臺。模塊化的設(shè)計，可選配300mm樣品臺或350*450mm平板樣品臺，Robot上片系統(tǒng)，圖形識別系統(tǒng)和數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)，實現(xiàn)高速在線監(jiān)控。在測試功能方面，可自由組合多種從190nm深紫外光譜至2400nm近紅外光譜的探測器，并可拓展FTIR紅外光譜測試模組、渦電流法非接觸式或4PP接觸式方塊電阻測試模組、Mueller Matrix各項異性材料測試模組、Raman結(jié)晶率測試模組、電子遷移率表征模組、LBIC光誘導(dǎo)電流測試模組、反射干涉測試模組等多種功能，使SE-2000成為光學(xué)和電學(xué)特性表征綜合測試系統(tǒng)。 |
產(chǎn)品特點
| 業(yè)界第一家光譜型橢偏儀測試設(shè)備廠商 |
| 業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測試機構(gòu)定標(biāo)設(shè)備，參與發(fā)布中華人民共和國橢圓偏振測試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) |
| 業(yè)界最寬測試光譜范圍，選配190nm-25um，可自動切換快速探測模式和高精度探測模式 |
| 配置實時對焦傳感器，實現(xiàn)高速測量 |
| 選配Robot上片系統(tǒng)，圖形識別系統(tǒng)和數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)，實現(xiàn)在線監(jiān)控 |
| 獨特的樣品臺結(jié)構(gòu)設(shè)計，優(yōu)化固定大尺寸的柔性材料 |
| 模塊化設(shè)計，可綜合監(jiān)控樣品光學(xué)和電學(xué)特性 |
| 定期免費升級材料數(shù)據(jù)庫 |
| 開放光學(xué)模型擬合分析過程，方便用戶優(yōu)化測試菜單 |
主要應(yīng)用
| 光伏行業(yè) |
| 半導(dǎo)體行業(yè) |
| 平板顯示行業(yè) |
| 光電行業(yè) |
主要技術(shù)指標(biāo)
| 最大樣品尺寸： 300mm |
| 厚度測量范圍：0.01nm-50um |
| 厚度測試精度： < 0.5nm |
| 折射率測試精度：< 0.005 |
聯(lián)系方式
公司名稱 納瑟(上海)納米科技有限公司
聯(lián)系賣家 劉峰
電話 萨萬萦-营营萦萬萭萪萩萧
手機 萦萧萪萬萦萧萩萪萫萩萩
地址 上海市虹口區(qū)
劉峰 經(jīng)理
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