廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項

分光計的選擇

一般是根據(jù)分析元素及其測定范圍、鄰近譜線對分析線影響的程度等因素，考慮色散率、測定波長范圍和亮度來選定。

分析線的選擇

分析元素和內(nèi)標元素的譜線應(yīng)選擇受其他元素譜線及帶光譜等影響小、信噪比大的譜線。

對直讀光譜儀射線強度有影響的因素

不均勻效應(yīng)

不均勻效應(yīng)是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對熒光X射線強度的影響。對于粉末樣品，大顆粒吸收效應(yīng)強，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對X射線的吸收。測短波X射線時，要求粒度在250目以上，測量波長大于0.2nm的長波x射線時，則粒度要求在400目以上。

固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實并使表面平滑。粗糙表面會使熒光X射線的強度明顯下降。測量短波X射線時，光潔度在1005m左右，測量長波X射線時，光潔度為20-50Mm。

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火花直讀光譜儀應(yīng)用前景分析

火花直讀光譜儀主要適用于金屬中少量及微量金屬元素分析，隨著現(xiàn)代材料科學的發(fā)展，在提高金屬材料質(zhì)量的同時，對分析的要求也相應(yīng)提高。火花直讀光譜儀在應(yīng)用方面有哪些新的突破，各位產(chǎn)品負責人及專家分別談了自己的看法。

由于用戶出于對生產(chǎn)成本的考慮，往往希望一臺儀器能解決的問題越多越好，為了迎合用戶的需求，各個儀器廠商也投入了充分的研發(fā)力量，不斷開發(fā)光電直讀光譜儀的‘潛能’。

為了提高火花直讀光譜儀在痕量元素分析方面的性能，斯派克王彥彪先生表示：“多家廠商都推出相應(yīng)的技術(shù)實現(xiàn)了痕量元素的光譜檢測，如痕量元素火花分析技術(shù)(SAFT)、時間分辨光譜技術(shù)(TRS)、單火花時間分解技術(shù)(GISS)、脈沖分布測定法(PDA)等?！?

移動式直讀光譜儀在使用中需要注意的事項

1、計算機的操作和激發(fā)試樣時為確保安全必須由同一人操作到底。激發(fā)試樣前要先將試樣放好后才能使用計算機的操作指令。在激發(fā)崗位操作時要注意聽聲音，試料放置不好，有漏氣時，激發(fā)聲音都會不正常。每個試樣，必須激發(fā)二次以上。計算機操作時，應(yīng)記下爐號、次數(shù)和鋼種。檢查激發(fā)放電斑點，凝聚放電是好的，擴散放電(白點)是不好的。檢查激發(fā)點的位置上是否存在微小裂紋、氣孔和砂眼，激發(fā)點有無重疊等。

2、移動式直讀光譜儀在驗證分析試樣時，要激發(fā)接近含量的標鋼，以證明儀器是否在正常的工作。數(shù)據(jù)的選擇很重要，需考慮多方面的因素，如鐵值的變化，插入鋁量，激發(fā)斑點、聲音等，有時要重磨試樣分析驗證，有時需多次激發(fā)來驗證。分析數(shù)據(jù)一律以標鋼含量為準。

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影響手持式光譜儀射線強度因素

固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實并使表面平滑。粗糙表面會使熒光X射線的強度明顯下降。測量短波X射線時，光潔度在1005m左右，測量長波X射線時，光潔度為20-50Mm.

直讀光譜儀的光學系統(tǒng)構(gòu)造

羅蘭裝置，光柵中心和感光板中心固定在可動的連桿兩端，連桿的長度為光柵的曲率半徑，其兩端可沿互相垂直的導(dǎo)軌自由滑動，狹縫裝有導(dǎo)軌的交點上。在連桿移動過程中，狹縫、光柵和感光板始終在一羅蘭圓上。這種裝置的缺點為：只能用移動連桿來讀取不同波段的光譜。

帕邢裝置的羅蘭圓為一圓形鋼軌，狹縫和光柵都固定在鋼軌上，感光板環(huán)繞鋼軌安裝有一排底板架因而可同時拍攝幾組光譜，其優(yōu)點是穩(wěn)定性高。

依格爾裝置，其入射角等于衍射角，其中縫光源安裝在底板架的正上方，要改變波段可將光柵和底板沿相反的方向轉(zhuǎn)動同一角度，改變二者間的距離，使之始終位于羅蘭圓上。該裝置優(yōu)點為體積緊湊，通常用于真空紫外光譜儀。