根據(jù)儀器的結(jié)構(gòu)不同,又可分為多道直讀光譜儀和全譜直讀光譜儀,其中前者多采用光電倍增管作為檢測(cè)器,后者多采用陣列檢測(cè)器(如CCD).
隨著CCD技術(shù)的不斷發(fā)展,直讀光譜儀開始朝小型化、全譜型方向發(fā)展.小型化儀器功耗小,占用空間小且易于維護(hù);全譜直讀光譜儀能夠獲得全波段范圍內(nèi)的光譜,滿足多基體分析要求,譜線選擇靈活,可以有效扣除光譜干擾,分析更準(zhǔn)確,而多道直讀光譜儀只能檢測(cè)有限數(shù)量的光譜,很難做到這一點(diǎn).

光譜起源于17世紀(jì)，1666年物理學(xué)家牛頓次進(jìn)行了光的色散實(shí)驗(yàn)。他在暗室中引入一束太陽光，讓它通過棱鏡，在棱鏡后面的自屏上，看到了紅、橙、黃、綠、蘭、靛、紫七種顏色的光分散在不同位置上——即形成一道彩虹。這種現(xiàn)象叫作光譜．這個(gè)實(shí)驗(yàn)就是光譜的起源，自牛頓以后，一直沒有引起人們的注意。
經(jīng)歷了100多年的發(fā)展探索與研究，1859年克?；舴蚝捅旧鸀榱搜芯拷饘俚墓庾V自己設(shè)計(jì)和制造了一種完善的分光裝置，這個(gè)裝置就是世界上臺(tái)實(shí)用的光譜儀器，研究火焰、電火花中各種金屬的譜線，從而建立了光譜分析的初步基礎(chǔ)。直至1882年，羅蘭發(fā)明了凹面光柵，即是把劃痕直接刻在凹球面上。凹面光柵實(shí)際上是光學(xué)儀器成象系統(tǒng)元件的合為一體的高效元件，它解決了當(dāng)時(shí)棱鏡光譜儀所遇到的不可克服的困難。凹面光柵的問世不僅簡(jiǎn)化了光譜儀器的結(jié)構(gòu)，而且還提高了它的性能。
1928年以后，由于光譜分析成了工業(yè)的分析方法，光譜儀器得到迅速的發(fā)展，一方面改善激發(fā)光源的穩(wěn)定性，另一方面提高光譜儀器本身性能。
早的光源是火焰激發(fā)光譜；后來又發(fā)展應(yīng)用簡(jiǎn)單的電弧和電火花為激發(fā)光源，在上世紀(jì)的三十、四十年代改進(jìn)采用控制的電弧和電火花為激發(fā)光源，提高了光譜分析的穩(wěn)定性。工業(yè)生產(chǎn)的發(fā)晨，光譜學(xué)的進(jìn)步，促使光學(xué)儀器進(jìn)一步得到改善，而后者又反作用于前者，促進(jìn)了光譜學(xué)的發(fā)展和工業(yè)生產(chǎn)的發(fā)展。
六十年代光電直讀光譜儀，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展。由于計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計(jì)算機(jī)的小型化及微處理機(jī)的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎100％地采用計(jì)算機(jī)控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對(duì)分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制。
解放后，我國的光譜儀器工業(yè)從無到有，由小到大，得到飛躍的發(fā)展，且具有一定的規(guī)模，與世界先進(jìn)技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)中求生存，社會(huì)商品競(jìng)賽中得到發(fā)展。
1958年開始試制光譜儀器，生產(chǎn)了我國臺(tái)中型石英攝譜儀，大型攝譜儀，單色儀等。中科院光機(jī)所開始研究刻制光柵，59年上海光學(xué)儀器廠，63年北京光學(xué)儀器廠開始研究刻制光柵，63年研制光刻成功。1966—1968年北京光學(xué)儀器廠和上海光學(xué)儀器廠先后研制成功中型平面光柵攝譜儀和一米平面光柵攝譜儀及光電直讀頭。1971—1972年由北京第二光學(xué)儀器廠研究成功國內(nèi)臺(tái)WZG—200平面光柵光量計(jì)，結(jié)束了我國不能生產(chǎn)光電直讀光譜儀的歷史。

直讀光譜儀，一個(gè)很精密的儀器，它的日常維護(hù)是非常重要，對(duì)延長(zhǎng)儀器的使用壽命有很大幫助。下面就是鋼研納克為你總結(jié)的直讀光譜儀日常維護(hù)要點(diǎn)。
一、“專人負(fù)責(zé)、預(yù)防為主、經(jīng)常保養(yǎng)，及時(shí)檢修” 設(shè)專人負(fù)責(zé)光譜儀器的操作和保養(yǎng)，已預(yù)防為主，注重保養(yǎng)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)注重檢修。爐前化驗(yàn)儀器設(shè)備的保養(yǎng)、維護(hù)、調(diào)試、小修這都是實(shí)驗(yàn)員應(yīng)該掌握的基本技能。
二、“清潔” 一定要經(jīng)常擦拭透鏡，清理狹縫，更換光纖，由于直讀光譜儀使用的時(shí)間太長(zhǎng)了，激發(fā)臺(tái)由于點(diǎn)打的太多而容易出現(xiàn)放電漏氣的現(xiàn)象，使得光強(qiáng)上不去，因此要常常清理激發(fā)臺(tái)板和火花室。這樣既能保護(hù)儀器，對(duì)儀器分析性能也起到了很好的條件保障作用。每一次使用完?duì)t前化驗(yàn)儀器之后，要恢復(fù)原來的樣子，并且擦干凈，同時(shí)填好使用的記錄。
三、“熟練儀器性能” 剛剛購買的儀器，一定要對(duì)其性能好好熟悉，掌握它的操作規(guī)程以后，才能夠調(diào)試運(yùn)行。切忌生手在未經(jīng)培訓(xùn)或者旁邊沒有指導(dǎo)員的情況下，私自操作儀器。否則很可能會(huì)對(duì)儀器造成一定程度的損壞。
四、“嚴(yán)格的遵守操作規(guī)程,不要把零、附件和說明書丟下” 儀器的使用過程中，一定要遵守儀器操作規(guī)程。多看說明書。要好好保護(hù)儀器，合理進(jìn)行應(yīng)用，出現(xiàn)故障先暫停使用，有問題及時(shí)進(jìn)行修理。

Labspark 750T 精密直讀火花光譜儀技術(shù)參數(shù)
Labspark 750T 技術(shù)優(yōu)勢(shì)
?激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料。
?獨(dú)特的恒溫式火花臺(tái)設(shè)計(jì)，環(huán)狀氬氣流方式，保證連續(xù)激發(fā)狀態(tài)下儀器的穩(wěn)定性，避免使用水冷帶來的不利影響。
?安全防護(hù)設(shè)備阻止不安全激發(fā)。
?銅基座火花臺(tái)，火花臺(tái)易于拆卸，便于清潔。
?帶有獨(dú)特配件，易于檢測(cè)多種形狀的分析對(duì)象（餅狀、棒狀、線狀）。
?一體式透鏡隔離閥，可防止因日常維護(hù)導(dǎo)致的光室污染影響強(qiáng)度下降，透鏡易于更換。
?放電室設(shè)計(jì)獨(dú)特，保證放電在條件下進(jìn)行。
?激發(fā)電極為鎢電極。
?帕邢 - 龍格架發(fā)，高發(fā)光全息光柵。
?光柵焦距 750mm，刻線為 2400 條 /mm，
?譜線范圍：120-800nm。
?色散率：一級(jí)色散率：0.55nm/mm， 二級(jí)色散率：0.275nm/mm。
?分辨率：優(yōu)于 0.01nm。
?整體出射狹縫調(diào)試方便、快捷、便于用戶增加更改通道，節(jié)約成本。
?光柵、光電倍增管等核心部件全部進(jìn)口。
?真空度由真空泵和真空控制設(shè)備控制。
?鑄鐵光室，熱膨脹系數(shù)低，保證真空度的要求。
?采用納克公司獨(dú)創(chuàng)的金屬原位分析儀的核心關(guān)鍵技術(shù) -- 單次放電采集解析技術(shù)（Single Discharge Analysis，SDA）。
?世界首創(chuàng)的多通道同步描跡提高儀器穩(wěn)定性。
?延時(shí)積分技術(shù)，國內(nèi)空白、，不同的通道采用不同的積分起始時(shí)間。
?內(nèi)部恒溫系統(tǒng)，不同的部位采用不同的恒溫條件，大大減少了外部環(huán)境變化對(duì)儀器的影響（控制精度 ±0.1℃）
?連續(xù)可調(diào)光源，對(duì)不同的材質(zhì)可以匹配不同的光源實(shí)現(xiàn)的分析結(jié)果。
?模塊化的電路設(shè)計(jì)，維修方便快捷，為遠(yuǎn)程診斷做好了準(zhǔn)備。
?軟件可調(diào)獨(dú)立高精度負(fù)高壓模塊，負(fù)高壓精度＜ 0.05%。
?負(fù)高壓可由分析程序控制，調(diào)高分析程序的分析精度，擴(kuò)展元素的分析范圍。
?實(shí)時(shí)監(jiān)控各通道負(fù)高壓、 光室溫度、火花臺(tái)溫度、真空度等重要參數(shù)，確保儀器長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行。
?各光電倍增管負(fù)高壓獨(dú)立 供電，消除相互干擾，運(yùn)行更可靠。
?根據(jù)分析需要，可程序調(diào)整，拓寬反分析范圍。
?包括不同基體不同曲線的計(jì)算，全中文分析軟件，方便用戶操作，第三元素干擾校正，提高分析準(zhǔn)確度。