我們應該設置怎樣的采樣頻率來對透鏡引入的相位進行合適的取樣呢？

我們可以通過Zemax OpticStudio中的評價函數(shù)編輯器（Merit Function）或者宏語言(ZPL Macro)來計算合理的采樣率。評價函數(shù)如圖8所示。

函數(shù)編輯邏輯如下：

?計算光束邊緣相距很短的兩條光線的光程差。（因為邊緣的相位變化最劇烈）。

?計算對這兩條光線的相位變化以及所需要的像素個數(shù)。

?將這一數(shù)值乘以全孔徑直徑以得到整個孔徑所需要的像素個數(shù)。

但是，我們可以看到面2上的網格的寬度變得非常大（124.2mm），并且光束解析度非常差。透鏡前表面即面4上的光束取樣甚至更差（253.8mm）。放大面4上的光束可以看到強度分布的峰值僅被4個像素表示，光束強度在像素邊界快速的變化，這造成了在X和Y方向上相對于光束傳播有高頻噪點。

解決取樣問題

要解決以上問題，我們可以增加光束起始處的網格寬度。光束從焦點傳播到第1一透鏡前表面，會經歷一個傅里葉變換（FFT）。在傅里葉變換中，一個面的解析度會跟另一個面的網格寬度成反比。轉換前空間中的網格寬度決定了轉換后空間的像素尺寸大小，較寬的網格可以使 轉換后的面解析度更高。

Ray Aiming有兩種算法：“Paraxial Ray Aiming”和“Real Ray Aiming”,這兩種算法在精度上并無區(qū)別，只是后者比前者可以處理的范圍更廣泛一些，但是速度會慢很多。

一般原則：只要在必要的時候使用“Ray Aiming”,當需要使用時優(yōu)先使用“Paraxial Ray Aiming”。

光瞳像差光扇圖

我們可以使用光瞳像差光扇圖來查看系統(tǒng)是否有明顯的光瞳像差

光瞳像差光扇圖在“Analysis >Aberratio1ns > Pupil Aberration”里打開。下圖系統(tǒng)存在明顯的光瞳像差。