XK-XPL3230透反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進行研究鑒定的常選儀器,可供廣大用戶進行單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。廣泛應用于地質(zhì)、化工、醫(yī)療、藥品等領域的研究與檢驗，也可進行液態(tài)高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機構與高等院校進行研究與教學的常購儀器。

性能特點

▲  采用無限遠光學系統(tǒng)及模塊化功能設計。 

▲  配置無窮遠無應力長工作距離平場物鏡。 

▲  廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。

▲  粗微動同軸調(diào)焦機構，粗動松緊可調(diào)，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。  

▲  偏光觀察裝置可移入或移出光路，起偏器與檢偏器均可360°旋轉。 

▲  旋轉式載物臺，360°等分刻度,游標格值6&＃39;，中心可調(diào)，帶鎖緊裝置，工作臺垂直有效行程可達 30mm。

▲  寬電壓電源(85-265V 50/60Hz). 6V30W鹵素燈照明，亮度可調(diào)。 

▲  三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可100%通光，適合低照度顯微圖像拍攝。

下圖為該款儀器工業(yè)化工粉末效果觀察展示：(1000x)