直讀光譜分析儀具有分析速度快，準(zhǔn)確度較高的特點(diǎn)，但對(duì)于碳、硅含量較高的鑄鐵特別是球鐵的爐前分析，存在試樣白口化及分析樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織狀態(tài)和組分之間存在的不完全一致問(wèn)題。用鋼研納克SparkCCD7000直讀光譜分析儀應(yīng)用于鑄造爐前分析，針對(duì)上述兩個(gè)問(wèn)題進(jìn)行了試驗(yàn)，解決這兩個(gè)問(wèn)題

硫是有害的雜質(zhì)，在鋼中要嚴(yán)格限制其含量。硫作為常規(guī)分析非金屬元素，其激發(fā)產(chǎn)生的特征波長(zhǎng)較長(zhǎng)，能量較低，受光路的影響較大，所以它是光譜儀分析元素中較為敏感的元素。在日常分析中，儀器的飄移，如電源異常、設(shè)備震動(dòng)、光電倍增管的老化等所造成的影響對(duì)硫來(lái)說(shuō)，激發(fā)強(qiáng)度一般都是向低端偏離，容易出現(xiàn)數(shù)據(jù)的不準(zhǔn)確性。

Spark 8000 全 譜 火 花 直 讀 光 譜 儀 技 術(shù) 參 數(shù)
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)
?高靈敏度 CMOS 檢測(cè)器
?像素?cái)?shù)：4096，全行業(yè)
?像素尺寸： 7μm，全行業(yè)小
?精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量
?線性度好，圖像滯后小
?工作頻率范圍寬，可在 1~10MHz 下工作
?帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無(wú)像差，分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)
?線分辨率： 0.7407nm/mm
?像素分辨率 ：0.005926nm
?譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）
?潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時(shí)）啟動(dòng)只需 30min，熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min
?智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氬氣，降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氬氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天
?一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)
?獨(dú)立控制不同 CMOS 的積分曝光時(shí)間
?提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的穩(wěn)定性
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點(diǎn)
?全固態(tài)數(shù)字火花光源（國(guó)家專(zhuān)利技術(shù) 專(zhuān)利號(hào) ZL 201010118150.4）
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達(dá) 1000Hz
?MTBF（平均無(wú)故障間相隔時(shí)間）＞ 5000 小時(shí)
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無(wú)需清理
?硅膠加熱膜，加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng)，溫度控制精度±0.1℃
?多重保溫措施，隔絕環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線程數(shù)據(jù)采集，采集速度快、頻率高
?便于維護(hù)
?消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
?自動(dòng)扣除元素間加合、倍增干擾，分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動(dòng)校準(zhǔn)像素漂移，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
?元素含量高低曲線分段，自動(dòng)匹配，分析范圍廣
?未知樣品自動(dòng)匹配分析程序
?簡(jiǎn)潔清新、功能強(qiáng)大
?多語(yǔ)言版本（中、英、俄、德）
?智能冶煉配料計(jì)算
?牌號(hào)識(shí)別
?支持碳當(dāng)量等自動(dòng)計(jì)算功能

直讀光譜儀有哪些種類(lèi)？
直讀光譜儀可以有不同的劃分方法。
根據(jù)光柵所處的環(huán)境不同，可分為真空型和非真空型直讀光譜儀，其中非真空型直讀光譜儀又可分為空氣型直讀光譜儀（無(wú)法測(cè)定真空紫外波段的C、P、S、As等元素含量）和充惰性氣體型直讀光譜儀（可以測(cè)定真空紫外元素）；
根據(jù)儀器的結(jié)構(gòu)不同，又可分為多道直讀光譜儀和全譜直讀光譜儀，其中前者多采用光電倍增管作為檢測(cè)器，后者多采用陣列檢測(cè)器（如CCD）。
隨著CCD技術(shù)的不斷發(fā)展，直讀光譜儀開(kāi)始朝小型化、全譜型方向發(fā)展。小型化儀器功耗小，占用空間小且易于維護(hù)；全譜直讀光譜儀能夠獲得全波段范圍內(nèi)的光譜，滿足多基體分析要求，譜線選擇靈活，可以有效扣除光譜干擾，分析更準(zhǔn)確，而多道直讀光譜儀只能檢測(cè)有限數(shù)量的光譜，很難做到這一點(diǎn)。