濟(jì)寧儒佳檢測儀器有限公司主營：超聲波測厚儀,超聲波探傷儀,磁粉探傷機(jī),觀片燈
超聲波測厚儀

超聲波測厚儀是選用蕞新的、低能耗微控制器技術(shù)性，根據(jù)超聲波測量原理，能夠測量金屬材料以及它多種多樣原材料的厚度，并能夠?qū)υ牧系牟ㄋ匍_展測量。能夠?qū)ιa(chǎn)線設(shè)備中各種各樣管路和高壓容器開展厚度測量，檢測他們在應(yīng)用全過程中受浸蝕后的減薄水平，還可以對各種各樣板才和各種各樣生產(chǎn)加工零件作測量。本涂層測厚儀選用單脈沖反射超聲波測量原理，適用超聲波能以一穩(wěn)定速率在其內(nèi)部散播,能夠從其反面獲得反射的各種各樣原材料厚度的測量。

影響超聲波測厚儀精度的因素

影響超聲波測厚儀精度的因素

耦合劑的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測物體之間的空氣，使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng)，將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍，無法測量。實際使用中由于耦合劑使用過多，造成探頭離開工件時，儀器示值為耦合劑層厚度值。

被測物體(如管道)內(nèi)有沉積物，當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時，測厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。

金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層，雖與基體材料結(jié)合緊密，無名顯界面，但聲速在兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的，從而造成誤差，且隨覆蓋物厚度不同，誤差大小也不同。

當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷(如夾雜、夾層等)時，顯示值約為公稱厚度的70%(此時要用超聲波探傷儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測)。

應(yīng)力的影響。在役設(shè)備、管道大部分有應(yīng)力存在，固體材料的應(yīng)力狀況對聲速有一定的影響，當(dāng)應(yīng)力方向與傳播方向一致時，若應(yīng)力為壓應(yīng)力，則應(yīng)力作用使工件彈性增加，聲速加快;反之，若應(yīng)力為拉應(yīng)力，則聲速減慢。當(dāng)應(yīng)力與波的傳播方向不一至?xí)r，波動過程中質(zhì)點振動軌跡受應(yīng)力干擾，波的傳播方向產(chǎn)生偏離。根據(jù)資料表明，一般應(yīng)力增加，聲速緩慢增加。

超聲波測厚儀

第二代儀器，采用的是“界面——回波”技術(shù).

即，事先剔除脈沖信號從晶振片開始到被測物表面的時間；

這種技術(shù)的出現(xiàn)，其目的本來是為了剔除“晶振片到探頭保護(hù)膜的距離”給測厚帶來的誤差，事實上，這個“距離”，與要測的厚度通常不在一個數(shù)量級上，因此，其適用性只在一個很窄的范圍內(nèi)才有意義。這種技術(shù)自本世紀(jì)初，在國外的儀器中開始有大量的應(yīng)用，但作為一種“權(quán)宜之計”的過渡技術(shù)，很快被跨越，不到五年的時間，就讓出了它的“優(yōu)越地位”。

第三代儀器，采用的是“回波——回波”技術(shù)。

即，以“次底面回波”和“第二次底面回波”的時間差為基礎(chǔ)來計算厚度；這種技術(shù)，與“界面——回波”技術(shù)有相同的地方，即，都不用考慮“晶振片到探頭保護(hù)膜的距離”帶來的測量誤差，但同樣，只在小范圍內(nèi)才有適用意義。

這種技術(shù)得以應(yīng)用，其更大意義在于：該技術(shù)改變了儀器的電路結(jié)構(gòu)，使得儀器可以給換能器（探頭）更大的能量、并能更好地分檢回波信號，因此，應(yīng)對“信號衰減”，采用這種技術(shù)的儀器比前兩代儀器有了質(zhì)的提升；也因此，“回波—回波”，成了迄今為止先進(jìn)超聲波測厚儀共同的技術(shù)基礎(chǔ)。

第四代儀器，采用的是“A掃描信號測厚”技術(shù)。

前面三代都是“讀數(shù)型測厚儀”，不管讀哪幾次波，*終都是靠事先設(shè)定的程序由儀器來判定和計算的。而“A掃測厚儀”則是將所有的信號都顯示在屏幕上，由操作者自行判斷、并且可以計算任意兩次波的時間差，也就是說，將測量的主動權(quán)交給了操作者，這對于分析型測厚、以及雜波信號較多的測厚非常有幫助；

第五代儀器，采用的是單晶探頭。

前面四代測厚儀，使用的都是雙晶探頭（只有在超薄件測厚中，才有專門的機(jī)型使用高頻單晶探頭），而雙晶探頭，由于晶振片排列的結(jié)構(gòu)性因素，超聲波的傳遞呈現(xiàn)出一個“V”型路徑，這意味著，晶振片發(fā)射和接收信號的有效面積勢必受到“V”路徑的影響，也就是說，每個雙晶探頭的測厚范圍受晶振片直徑、晶振片斜角的影響較大。